FT成品测试能力

測 试 机 ：Advantest /Chroma/AccoTest/Juno/PowerTech/AMB/Qstar

分 选 机 ：JHT/ASM/SRM/SHF/SKD/Vitrox/ICOS

溫度範圍 ：20℃~135℃

封裝類型 ：LGA，QFN，QFP，BGA，DFN 等

特殊規格 ：可支持超小脚距、超薄封装、超高频段、MEMS 等特殊产品实验及量产

測試產品 ：数字、模拟、数模混合、射频、高速接口、无线连接等各类集成电路

CP晶圆测试能力

測 试 机 ：Advantest /Chroma/AccoTest/Juno/PowerTech/AMB/Qstar

探 针 台 ：TSK/长川

溫度範圍 ：20℃~135℃

晶圓規格 ：6寸，8寸，12寸

特殊規格 ：可支持薄片，破损片等特殊测试

測試產品 ：数字、模拟、数模混合、射频、高速接口、无线连接等各类集成电路